納米粒度電位儀可檢測(cè)納米顆粒的哪些特性？
更新時(shí)間：2022-01-19 點(diǎn)擊次數(shù)：1982
納米顆粒通常是指三維尺寸都處于納米尺度范圍（1nm-100nm）的粒子。納米材料是指在三維空間中至少有一維處在納米尺度范圍（1nm-100nm）或由他們作為基本單元構(gòu)成的材料。由于納米材料是由相當(dāng)于分子尺寸甚至是原子尺寸的微小單元組成，也正因?yàn)檫@樣，納米材料具有了一些區(qū)別于相同化學(xué)元素形成的其他物質(zhì)材料特殊的物理或是化學(xué)特性例如：其力學(xué)特性、電學(xué)特性、磁學(xué)特性、熱學(xué)特性等，這些特性在當(dāng)前飛速發(fā)展的各個(gè)科技領(lǐng)域內(nèi)得到了應(yīng)用。
BeNano 系列納米粒度電位儀是丹東百特儀器有限公司全新開(kāi)發(fā)的測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位、高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析、質(zhì)量控制用途。
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