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        BeNano 180 Zeta檢測石墨烯的Zeta電位

        更新時間:2023-07-24      點擊次數(shù):4792
         

        關鍵詞:Zeta電位、石墨烯


        石墨烯(Graphene)是一種碳原子緊密堆積成單層二維蜂窩狀晶格結(jié)構(gòu)的新材料,具有優(yōu)異的光學、電學、力學特性,在材料學、微納加工、能源、生物醫(yī)學和藥物傳遞等方面具有重要的應用前景,被認為是一種未來革命性的材料。

         

        可以在石墨烯表面植入官能團從而大幅提高材料的細胞和生物活性,石墨烯的表面帶電與表面改性密切相關。

        在這篇應用報告中,我們使用丹東百特儀器公司最新推出BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位儀檢測了分散在水性環(huán)境中的改性石墨烯的Zeta電位。

         

        原理和設備                                                        

        電泳光散射技術ELS是利用激光照射在樣品溶液或者懸浮液上,檢測角度12°的散射光信號。在樣品兩端施加一個電場,樣品中的帶點顆粒在電場力的驅(qū)動下進行電泳運動。由于顆粒的電泳運動,樣品的散射光的頻率會產(chǎn)生一個頻移,即多普勒頻移。利用數(shù)學方法處理散射光信號,得到散射光的頻率移動,進而得到顆粒的電泳運動速度,即電泳遷移率μ。通過Herry方程,我們把顆粒的電泳遷移率和其Zeta電位ζ聯(lián)系起來:

        image.png 

        其中ε為介電常數(shù),η為溶劑粘度,f(κα)Henry函數(shù),κ為德拜半徑倒數(shù),α代表粒徑,κα代表了雙電層厚度和顆粒半徑的比值。

           丹東百特公司的BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位儀,使用波長671 nm,功率50 mW激光器作為光源,在173°進行粒徑檢測,在12°度角進行Zeta電位檢測。采用PALS相位分析光散射技術。

        image.png 

        圖1. BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位儀

         

        樣品制備和測試條件

        測試了兩個表面改性的石墨烯懸浮液樣品的Zeta電位。由于樣品本身為懸浮液,目測濁度不高,所以采用原樣測試。

        image.png 

        圖2. 左側(cè)為樣品一,右側(cè)為樣品二

        通過BeNano 180 Zeta內(nèi)置的溫度控制系統(tǒng)開機默認測試溫度控制為25±0.1,每一個樣品在放入樣品池后進行至少三次測試,以檢測結(jié)果的重復性和得到結(jié)果的標準偏差。

        測試結(jié)果和討論

        image.png 

        圖3. 樣品1多次檢測相圖

        image.png 

        圖4. 樣品2多次檢測相圖

        通過電泳光散射,得到了兩個表面改性的石墨烯樣品的Zeta電位信息。圖3和圖4中展示了三次重復性測試的相圖,相圖斜率代表了散射光由于電泳運動造成的頻率的偏移。可以通過圖中曲線看出,相圖斜率清晰,信噪比良好。

         

        表1. Zeta電位結(jié)果

        測試

        Zeta電位?。ǎ恚郑?/span>

         

        樣品1

        樣品2

        -50.45

        -34.60

        -50.48

        -34.51

        -53.78

        -34.04

        平均值

        -51.57

        -34.08

        標準偏差

        1.91

        0.3

          對于兩個樣品的3次重復性結(jié)果列于表1中,可以看到兩個石墨烯樣品在當前溶液環(huán)境中Zeta電位為負值,說明石墨烯顆粒表面攜帶負電。相對而言樣品1的Zeta電位絕對值更高,說明在當前溶液環(huán)境中樣品1表面的電荷密度更高。三次測試結(jié)果的重復性較好,說明顆粒表面帶有較多電荷,懸浮液穩(wěn)定性較好。

         

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